Caracterización nanopartículas por método de microscopia electrónica de barrido y espectroscopia de energía dispersiva de rayos X
Para citar o enlazar este item, por favor use el siguiente identificador:
http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/22681| Título : | Caracterización nanopartículas por método de microscopia electrónica de barrido y espectroscopia de energía dispersiva de rayos X |
| Autor : | López Troya, Marlon Enrique |
| Director de Tesis: | Veliz Noboa, Bremnen Marino |
| Resumen traducido: | The purpose of this academic article was the characterization of nanoparticles by scanning electron microscopy and X-ray energy dispersive spectroscopy. The aim is to advance in scientific research in the field of study of nanoparticles for the Salesian Polytechnic University headquarters Guayaquil, to take a step towards the goal of the development of nanomaterials. In this sense, the characterization of nanoparticles by SEM and EDX method of the nanoparticles PS-KM317, SiO2-SC94, SiO2-NH2-AR1003 is intended. |
| Resumen : | Este artículo académico tiene como finalidad la caracterización de nanopartículas por método de microscopia electrónica de barrido (SEM) y espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDX). El fin es avanzar en investigación científica en el campo de estudio de nanopartículas para la Universidad Politécnica Salesiana sede Guayaquil, dar un paso a la meta del desarrollo de nanomateriales. En ese sentido, se pretende la caracterización de nanopartículas por método de SEM Y EDX de las nanopartículas: PS-KM317, SiO2-SC94, SiO2-NH2-AR1003. |
| Palabras clave : | SEM EDX NANOPARTÍCULAS NANOMATERIALES MORFOLOGÍA IMAGEJ |
| Fecha de publicación : | 2022 |
| URI : | http://dspace.ups.edu.ec/handle/123456789/22681 |
| Idioma: | spa |
| Pertenece a las colecciones: | Grado |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| UPS-GT003769.pdf | Texto completo | 1,86 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons